低温挠卷试验装置
低温挠卷试验装置的导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后，立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料，则先行卷绕，再冷却相同之时间后，立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料，检视其表面是否产生龟裂、裂痕。
型号：HK-DWZZ-01
时间：2025-04-08
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特色
参数
配件
一，低温挠卷试验装置标准：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
二，说明：
导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后，立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料，则先行卷绕，再冷却相同之时间后，立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料，检视其表面是否产生龟裂、裂痕。
三，技术参数：
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温度 Temp. |
冷却方式 Cooling method |
降温速度 Cooling speed |
精度 Accuracy |
材质 Material |
圆杆 Rod |
内箱 Test chamber |
线套 |
体积 Dimension (W×D×H) |
重量 Weight |
电源 Power |
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-40～+130℃ |
气冷式 Air Frozen |
常温 Room temp. ～-40℃, 60min |
±2℃ |
内外箱， SUS304# |
Φ4.0～37.5mm，共12支 |
45×50×50cm |
Φ3.5/6/ 10/12/ 16mm 各2只 |
100×80×135cm |
262kg |
1∮ AC 220V 30A |
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